Sposób stymulacji wzrostu i diagnostyki drobnoustrojów w materiałach oraz urządzenie do stosowania tego sposobu

Hits: 711
Dyscyplina naukowa:
Rok:
2006
Typ publikacji:
Patent
Autorzy:
Patent number:
209937
Filing date:
2006-01-30
Issue date:
2011-11-30
Filing date:
2006-01-30
Issue date:
2011-11-30
Streszczenie:
Wynalazek dotyczący sposobu stymulacji wzrostu i diagno- styki drobnoustrojów w materiałach poprzez działanie hamujące lub/i pobudzające selekcję drobnoustrojów, w którym stosuje się jednoczesne oddziaływanie na badany materiał czynników selekcjonujących wzrost, takich jak promieniowanie świetlne, pole elektryczne, magnetyczne, drgania mechaniczne, tempera-turę i skład gazu, mierząc jednocześnie zmiany pola powierzchni i/lub natężenia emisji elektromagnetycznej poszczególnych ko-lonii komórkowych, co umożliwia ocenę ich dynamiki wzrostu. Urządzenie do stosowania powyższych sposobów składa się w swej istocie z wzajemnie współpracujących dwóch modułów, laboratoryjnego (A), w którym przeprowadza się badanie i selek-cję drobnoustrojów oraz ze sterująco-pomiarowego modułu (B). Wynalazek umożliwia uzyskanie wysokiej swoistości w hodowli różnicowej drobnoustrojów na prostych i tanich pożywkach przy jednoczesnym zwiększeniu szybkości diagnozy i obniżeniu kosz-tów. Dodatkowo, wynalazek umożliwia zastąpienie dotychczaso-wych drogich selektorów chemicznych na rzecz tanich selektorów fizycznych. Sposób oraz urządzenie według niniejszego wynalazku, stwarza też możliwość prowadzenia hodowli pozaustrojowej w do-wolnie zaprogramowanych warunkach składu gazu i temperatury oraz pod wpływem pola magnetycznego, fal radiowych, mikrofal 23 i drgań mechanicznych oraz wybranych wycinków widma światła białego, co w znacznym stopniu ułatwia selekcjonowanie linii ko-mórkowych i tworzenie optimum ich rozwoju. Zastosowanie wy-nalazku w opcji hodowli komórek nowotworowych, może umoż-liwić wykonywanie testów wrażliwości różnych linii komórkowych nowotworu na cytostatyki.

Copyright © 1997-2012 - Zakład Komputerowych Systemów Biomedycznych.
Uniwersytet Śląski, Wydział Informatyki i Nauki o Materiałach, Instytut Informatyki, ul. Będzińska 39, 41-200 Sosnowiec, Polska